GB/T 44513-2024《微机电系统（MEMS）技术 传感器用MEMS压电薄膜的环境试验方法》
Micro-electromechanical systems (MEMS) technology—Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
标准类型：国家标准
标准属性：推荐性
标准状态：现行
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国家标准《微机电系统（MEMS）技术 传感器用MEMS压电薄膜的环境试验方法》由TC336（全国微机电技术标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。
主要起草单位昆山昆博智能感知产业技术研究院有限公司、中用科技有限公司、中机生产力促进中心有限公司、苏州大学、成都航天凯特机电科技有限公司、武汉大学、北京智芯微电子科技有限公司、无锡华润上华科技有限公司、昆山双桥传感器测控技术有限公司、深圳市美思先端电子有限公司、中国科学院微电子研究所、重庆宸硕测控技术有限公司、苏州市质量和标准化院、苏州慧闻纳米科技有限公司、上海新微技术研发中心有限公司、苏州科技大学、苏州晶方半导体科技股份有限公司、太原航空仪表有限公司、山东中科思尔科技有限公司、明石创新（烟台）微纳传感技术研究院有限公司、河北初光汽车部件有限公司、广东润宇传感器股份有限公司、芜湖乐佳电器有限公司。
主要起草人陈立国 、江大白 、李根梓 、刘会聪 、蒋礼平 、刘胜 、方东明 、夏长奉 、王冰 、周维虎 、许宙 、钟鸣 、张硕 、孙旭辉 、夏燕 、娄亮 、程新利 、杨剑宏 、陈志文 、张中飞 、胡增 、商艳龙 、王阳俊 、高峰 、卢弈鹏 、袁长作 、仲胜利 、李海全 、钱勇国 。
基础信息
标准号：GB/T 44513-2024发布日期：2024-09-29实施日期：2025-01-01标准类别：方法中国标准分类号：L59国际标准分类号：31.080.99 归口单位：全国微机电技术标准化技术委员会执行单位：全国微机电技术标准化技术委员会主管部门：国家标准委
采标情况
本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62047-37:2020。采标中文名称:半导体器件 微机电器件 第37部分：传感器用MEMS压电薄膜的环境试验方法。
起草单位
昆山昆博智能感知产业技术研究院有限公司中机生产力促进中心有限公司成都航天凯特机电科技有限公司北京智芯微电子科技有限公司昆山双桥传感器测控技术有限公司中国科学院微电子研究所苏州市质量和标准化院上海新微技术研发中心有限公司苏州晶方半导体科技股份有限公司山东中科思尔科技有限公司河北初光汽车部件有限公司芜湖乐佳电器有限公司中用科技有限公司苏州大学武汉大学无锡华润上华科技有限公司深圳市美思先端电子有限公司重庆宸硕测控技术有限公司苏州慧闻纳米科技有限公司苏州科技大学太原航空仪表有限公司明石创新（烟台）微纳传感技术研究院有限公司广东润宇传感器股份有限公司
起草人
陈立国江大白蒋礼平刘胜王冰周维虎张硕孙旭辉程新利杨剑宏胡增商艳龙卢弈鹏袁长作钱勇国李根梓刘会聪方东明夏长奉许宙钟鸣夏燕娄亮陈志文张中飞王阳俊高峰仲胜利李海全
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严格按照法律法规和行业标准行事，不受任何外部干扰，真实反映实际情况，出具的检测报告具有权威性和公信力。
服务领域广泛
服务领域广泛，涉及众多行业。食品、环境、医药、化工、建筑、电子、机械等领域，都能提供专业检测服务。
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